近日，南京大学Nongjian Tao，Hui Wang等多团队合作，利用等离激元成像技术研究了单个铂纳米粒子（用烷基硫醇单分子层从电极表面分离得来）上H2电催化还原的电子转移。通过改变单分子层的厚度，作者发现反应速率取决于从电极到纳米粒子的电子隧穿。隧穿衰减常数约为4.3 nm-1，小于文献中报道的烷基硫醇的隧穿衰减常数，作者认为隧穿势垒减小是由于电极电位偏置与氢还原体系呈负相关。该工作除了研究单个纳米粒子的电子转移，还展示了一种测量连接到两个电极的分子中电荷转移的光学方法。
Ruihong Liu, Hui Wang*, Nongjian Tao*, et al. Plasmonic Measurement of Electron Transfer Between a Single Metal Nanoparticle and an Electrode through a Molecular Layer. J. Am. Chem. Soc., 2019
DOI: 10.1021/jacs.9b05388
