为了了解铜氧化物中高温超导性的过程中，争论的焦点是赝能隙：在体积临界温度以上的“正常”状态下，在费米表面的一部分上打开的部分能隙。赝能隙的产生归因于前体超导性、预成形对的存在以及电荷密度波等相互竞争的阶数。直接测定载流子电荷与温度和偏压的函数关系，有助于解决这些备选方案中的问题。莱斯大学的Douglas Natelson教授报告了使用原子层逐层分子束外延在几个掺杂水平上制造的高质量La_2−xSr_xCuO₄/La₂CuO₄/La_2−xSr_xCuO₄（LSCO/LCO/LSCO）异质结构中隧道电流的散粒噪声测量。这些数据描绘了偏压-温度空间中三个不同的区域。在超导间隙区之外，散粒噪声与单个电荷载流子的独立隧道效应在数量上是一致的。在超导间隙的深处，粒子噪声大大增强，使人想起多次安德列夫反射。在临界温度以上，并且扩展到比超导间隙大得多的偏压，存在一个很大的区域，其中噪声大大超过了单电荷隧道的理论预期，表明电荷载流子对。这些电荷载流子对可以在温度和偏压的赝能隙区深处被探测到。这些电荷载流子对的存在限制了赝隙和破缺对称态的电流模型，而相位涨落限制了超导性的范围。

Zhou, P.; Chen, L.; Liu, Y.; Sochnikov, I.; Bollinger, A. T.; Han, M.-G.; Zhu, Y.; He, X.; Boz̆ović, I.; Natelson, D., Electron pairing in the pseudogap state revealed by shot noise in copper oxide junctions. Nature 2019, 572 (7770), 493-496.

DOI:10.1038/s41586-019-1486-7

https://www.nature.com/articles/s41586-019-1486-7