已经在所有高临界温度（Tc）超导铜酸盐系列中观察到电荷密度调制。虽然其始终存在于相图的欠掺杂区域和相对较低的温度下，但仍然不清楚其在多大程度上影响这些系统的不寻常特性。意大利米兰理工大学R. Arpaia和 G. Ghiringhelli等人使用共振X射线散射，仔细确定了在掺杂水平下YBa2Cu3O7-δ和Nd1+xBa2-xCu3O7-δ中电荷密度调制的温度依赖性。除了先前已知的准临界电荷密度波之外，研究人员还分离了短程动态电荷密度波动。它们持续远高于赝温度T*，其特征在于几毫电子伏特的能量，并且遍布在大面积的相图中。
Dynamical charge density fluctuations pervading the phase diagram of a Cu-based high-Tc superconductor, Science
https://science.sciencemag.org/content/365/6456/906
