辐射热测量设备或热电设备等热探测器能够感应任何电磁频率的入射辐射，是一类独具特色的器件。其问题在于，实际设备的响应时间通常达到毫秒级。有鉴于此，美国杜克大学Maiken H. Mikkelsen等人将100 nm Ag纳米立方体组成的等离激元表面与氮化铝热电薄膜集成在一起，发展了一种具有光谱选择性的室温热电探测器，其光谱范围为660–2,000 nm，仪器半峰宽为1.7 ns的半峰宽，上升时间仅需700 ps。由光吸收产生的热量通过亚波长吸收器扩散到热电薄膜中，由于热电薄膜具有温度相关自发极化性能，其响应度高达0.18 V W^-1。此外，有限元模拟表明，最大半峰宽有可能达到25 µps，而上升时间仅为6 µps，可与半导体光电二极管相媲美。这种设计方法有可能实现大面积，廉价的千兆赫热电探测器的制造，以实现从紫外到短红外或更高波长的特定探测，例如高速高光谱成像等等领域。

Mikkelsen,M. H.et al. Ultrafast pyroelectric photodetection with on-chip spectral filters. Nat. Mater. 2019.

DOI:10.1038/s41563-019-0538-6

https://www.nature.com/articles/s41563-019-0538-6.pdf