手性的确定在化学和生物学等各个领域都是具有挑战性和重要的课题，因为两种对映异构体具有相同的组成和镜像对称的结构，但在对映选择性分离，催化等方面可能表现出完全不同的活性和性质。然而，由于手性信息在二维投影中丢失，当前方法无法在真实空间成像中揭示原子级区域纳米晶体的手性。近日，上海科技大学Yanhang Ma等报道了一种电子晶体学方法，使用Cs校正扫描透射电子显微镜（STEM）确定原子级区域的手性。
本文要点：
1）通过将晶体沿某个方向从一个轴顺时针或逆时针倾斜到另一个轴，可以获取一组来自同一晶体的两个STEM图像；通过对沿某一区域轴的两个对映体结构的比较可以发现其具有明显的差异，这表明是与镜像对称相关的原子排列。因此，可以通过观察STEM图像中的特定原子排列来直接确定手性。
2）作者通过该方法实现了手性碲，硅化钽和石英晶体的手性测定。
该工作为合理合成和表征手性晶体开辟新的道路。
Zhuoya Dong, et al. Atomic-level handedness determination of chiral crystals using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy. Nat. Commun. 2020,
DOI: 10.1038/s41467-020-15388-5
