在二维材料（石墨烯、过渡金属硫化物等）中，由于层之间没有直接成键作用，因此能够很方便的构建范德瓦尔斯异质结构，但是其中的堆叠方式（特别是堆叠角度）等会影响二维晶体材料的性能，巴斯大学M. Mucha-Kruczyński等报道了通过角分辨荧光光谱法对三层结构的二维材料进行分析，其中两个界面是堆叠正常，另一个界面存在扭角。作者发现，两个界面都提供一定信息，并且总体上能通过自洽确定其耦合。作者通过对三层石墨烯中原子间的耦合进行参数化，这种结果能够应用于不同扭角、不同层数的体系中。

本文要点

（1）

通过ARPES方法、理论模拟计算方法进行研究，特别对倒易空间中类似的三层扭角θ=9°和双层扭角θ=19°的体系进行测试。并考察了三层扭角石墨烯中的电子波函数结构。本文中的方法为二维晶体材料中层间耦合情况的研究提供了信息，并且能应用于其他类型的范德瓦尔斯异质结中。

参考文献

J. J. P. Thompson, D. Pei, H. Peng, H. Wang, N. Channa, H. L. Peng, A. Barinov, N. B. M. Schröter, Y. Chen & M. Mucha-Kruczyński*

Determination of interatomic coupling between two-dimensional crystals using angle-resolved photoemission spectroscopy. Nature Commun. 2020

DOI：10.1038/s41467-020-17412-0

https://www.nature.com/articles/s41467-020-17412-0