圣地亚哥州立大学Diane Kimball Smith等报道了一种通过氢耦合电子转移构建高还原活性的H键二聚体，并且在H键二聚体分子中二级氢键决定了材料的总体成键强度。作者发现，氢键中的质子耦合电子转移显著增强了整体结合强度，通过构建强离子性H键、将二级H键的结构从不利调控为有利。作者展示了电活性DAD（D:H供体、A:H受体）结构组成的材料，展示了该方法的可行性和效率。

本文要点：

（1）

具体通过H(MQ⁺)H和无电活性的ADA结构O(NH)O进行配合。作者通过0.1 M NBu₄PF₆/CD₂Cl₂中进行典型的DAD-ADA结构H(MQ⁺)H和O(NH)O的NMR滴定实验。当在0.1 M NBu₄PF₆/CH₂Cl₂中进行双电子还原反应的过程中，循环伏安结果显示结合强度提高了1.8×10⁵，K_assoc达到9×10⁷ M^-1。

参考文献

Hyejeong Choi, Kiyeol Baek, Sean T. Toenjes, Jeffrey L. Gustafson, and Diane Kimball Smith*

Redox-Responsive H-Bonding: Amplifying the Effect of Electron Transfer Using Proton-Coupled Electron Transfer, J. Am. Chem. Soc. 2020

DOI: 10.1021/jacs.0c07841

https://pubs.acs.org/doi/10.1021/jacs.0c07841