超薄的二维过渡金属二硫属化物(TMD)薄膜由于其良好的电学和结构特性,作为新一代硅半导体的替代材料引起了人们极大的关注。TMD具有极薄的原子层,没有表面悬挂键,克服了迁移率降低和短沟道效应的缺点。不仅可以用作一般半导体器件(如沟道或源极/漏极区)的单个元件,还可以用于各种其他技术,如能谷电子技术。尽管人们对厚度小于3 nm(小于4层(4L))的TMD薄膜需求极大,但缺乏用于精确控制晶圆级规模层数的逐层生长方法,特别是对于从1L到4L的薄膜生长。
近日,韩国三星综合技术院Hyeon-Jin Shin,成均馆大学Sang-Woo Kim报道了提出了一种新的生长方法,即相变诱导生长(PTG)法,用于精确控制二硫化钼(MoS2)薄膜的生长,该薄膜由1~11层组成,且在2英寸晶片上具有空间均匀性。
文章要点
1)在PTG中,能量不稳定的非晶态MoSxOy(a-MoSxOy)相被有效地转化为热力学稳定的晶态MoS2薄膜。通过控制α-MoSxOy中Mo原子的含量,可以很容易控制MoS2的层数,这也适用于杂原子插入的MoS2的生长。
2)研究人员根据功函数分析了PTG生长的单层和四层本征MoS2和Nb插入MoS2的电子态。单层MoS2的功函数随Nb取代Mo而得到有效增加。当层数增加到4层时,电荷阻挡变得更弱,掺杂电离变得更容易,最终功函数进一步增加。因此,在较厚的层中可以实现更佳的电子态调节,并且PTG也具有精确控制膜厚度的优点。
参考文献
Ahrum Sohn, et al, Precise Layer Control and Electronic State Modulation of a Transition Metal Dichalcogenide via Phase-Transition-Induced Growth, Adv. Mater. 2021
DOI: 10.1002/adma.202103286
https://doi.org/10.1002/adma.202103286