光学检测目前是一种快速发展的表征二维材料的性质的非破坏性方法。通过光学检测方法,人们能够对二维材料进行可扩展的原位监测(in situ and scalable monitoring),从而用于实现二维材料实现大规模生产和制备。
有鉴于此,台湾大学陈学礼(Hsuen-Li Chen)等综述报道讨论目前对广泛的二维材料,包括石墨烯、过渡金属硫化物、III族单卤化物、六方BN、黑磷、IV族单卤化物等二维材料的光学检测方法。
具体包括广泛使用的光谱、椭圆偏振光谱、Raman光谱、荧光光谱,此外还包括单光子发光、时间分辨荧光、泵浦光谱法、散射型扫描近场光学显微镜(s-SNOM)、FTIR、X射线散射、反射谱等技术。
本文要点:
参考文献
Yang-Chun Lee,Sih-Wei Chang,Shu-Hsien Chen,Shau-Liang Chen,Hsuen-Li Chen*, Optical Inspection of 2D Materials: From Mechanical Exfoliation to Wafer-Scale Growth and Beyond, Adv. Sci. 2021, 2102128
DOI: 10.1002/advs.202102128
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/advs.202102128