Angew:层状Cu基导电MOF成键结构表征
纳米技术 纳米 2021-11-17

达特茅斯学院Katherine A. Mirica、加州理工大学Hosea M. Nelson等报道通过亚纳米分辨率的微晶电子衍射表征技术对Cu3(C6O6)2型层状MOF进行结构表征,首次解释说明层状MOF材料中不常见的距离仅仅2.7 Å的“pancake”型化学键与密堆叠π相互作用

本文要点:

(1)

能带结构分析结果显示,MOF材料具有半导体性质,这可能是因为“pancake”型化学键的局域性和生成单重态的二聚配体形成的。

(2)

Cu(II)的自旋组成了Kagomé 排列结构起到了主导MOF材料的顺磁自旋结构,导致较强的几何磁阻

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参考文献

Zheng Meng, Christopher G. Jones, Sidra Farid, Islam Ullan Khan, Hosea M. Nelson, Katherine A. Mirica, Unraveling the Electrical and Magnetic Properties of Layered Conductive Metal−Organic Framework With Atomic Precision, Angew. Chem. Int. Ed. 2021

DOI: 10.1002/anie.202113569

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/anie.202113569


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