无机-有机杂化材料由于其简单的合成路线和可定制的特性，在新报道的结构中占很大比例。这种扩散导致了表征瓶颈：许多杂化材料是具有低对称性和严重辐射敏感性的专性微晶，干扰了单晶X射线衍射和电子微衍射的标准技术。有鉴于此，美国康涅狄格大学的Hohman, J. Nathan等研究人员，开发了系列飞秒X射线衍射化学晶体学。

本文要点

1）研究人员展示了小分子系列飞秒X射线结晶学（smSFX）用于测定微晶材料的晶体结构。

2）研究人员将微晶悬浮液置于X射线自由电子激光辐射12,13下，获得了数千个随机取向的衍射图案。

3）研究人员通过将斑点发现结果汇总成高分辨率粉末衍射图来确定单位细胞。

4）通过图论方法对稀疏序列图案进行索引后，可以使用单晶衍射数据的标准工具对结果数据集进行求解和细化。

5）研究人员描述了mithrene（AgSePh），硫烯（AgSPh）和特提烯（AgTePh）的从头算结构溶液，其中后两种是以前未知的结构。

6）在硫烯中，研究人员发现银-银键网络的几何变化与其不同的光电性质有关。

本文研究证明了smSFX可以作为一种在近环境温度和压力下测定光束敏感微晶材料结构的通用技术。

参考文献：

Elyse A. Schriber, et al. Chemical crystallography by serial femtosecond X-ray diffraction. Nature, 2022.

DOI：10.1038/s41586-021-04218-3

https://www.nature.com/articles/s41586-021-04218-3