理论预测表明，二维Te纳米片在电子和光电应用领域具有广泛的应用前景。然而，高质量二维Te纳米结构的合成仍然具有挑战性，合成的困难极大地阻碍了对其各种优异性能的探索。中科大吴长征团队报道了与Te纳米片厚度相关的异常光响应。 研究人员通过拓扑变换制备得到具有大尺寸和清洁界面的超薄Te纳米片，发现当纳米片厚度小于5 nm时，Te纳米片中的光响应呈现出负面行为，随着厚度增加，其变为正。

Peng, J. et al. Two-Dimensional Tellurium Nanosheets Exhibiting an Anomalous Switchable Photoresponse with Thickness Dependence. Angew. Chem. Int. Ed.

Doi:10.1002/anie.201808050.

https://doi.org/10.1002/anie.201808050.