AEM:表面掺杂增强富锂层状氧化物的结构完整性和电化学性能
Mr. Citric 布隘里 2018-10-05

  富锂层状氧化物凭借高能量密度而被视为最有希望的正极材料之一,但是富锂层状氧化物存在着容量衰减、倍率性能差、电压衰降等问题。中科院的Zhaoxiang Wang 研究员团队通过在Li1.2Mn0.54Ni0.13Co0.13O2中掺杂Nb元素以及其他重金属元素解决了这些问题。这些掺杂元素位于氧化物表面并且通过强烈的Nb-O键将层与层连接起来以保持结构的完整性。经此修饰后的氧化物首周放电比容量高达320mAh/g,循环100周后容量保持率为94.5%。更为重要的是,在整个循环过程中其放电电压的衰降只有136mV。该研究结果进一步说明了降低表面氧的活性对于抑制氧化物中阳离子混排具有重要的作用。

Shuai Liu, Zepeng Liu et al, Surface Doping to Enhance Structural Integrity and Performance of LiRich Layered Oxide

DOI: https://doi.org/10.1002/aenm.201802105

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/aenm.201802105?af=R


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