相变存储器件中的可逆相变可以在纳秒量级上切换，这表明非晶相和晶相之间的结构非常相似。尽管如此，晶态和非晶态碲化物之间的联系还没有得到充分的了解和量化。

在这里，苏黎世联邦理工学院Maksym Yarema使用原位高温X射线吸收光谱(XAS)和理论计算来量化体相和纳米尺度的非晶态结构。

文章要点

1）在XAS实验的基础上，研究人员建立了非晶态Gete结构的理论模型，该结构由无序的面心立方结构的Te亚晶格和随机排列的四面体配位的Ge原子链组成。

2）值得注意的是，直观和可扩展的模型提供了实验观察到的相变记忆材料结构动力学的准确描述。具体地说，通过形成中间的、部分稳定的“理想玻璃”状态，研究人员提出了详细的晶化机制，并证明了块体和纳米级Gete之间的差异导致了晶化温度与尺寸的关系。

参考文献

Wintersteller, S., Yarema, O., Kumaar, D. et al. Unravelling the amorphous structure and crystallization mechanism of GeTe phase change memory materials. Nat Commun 15, 1011 (2024).

https://doi.org/10.1038/s41467-024-45327-7