对于小面积器件的研究，各种类型的边缘效应进而会高估短路电流密度。因此，常见的策略是采用掩膜版规范器件的活性面积。Kiermasch等人通过实验和理论分析该策略。这种常见做法会影响Voc开路电压和FF填充因子，并对短路电流密度产生影响。虽然引起了错误通过使用掩模的电压和填充因子通常小于误差范围，但另一方面，在不使用掩膜版的情况下，电流很难正确真实地被描述。

Kiermasch, D., Gil-Escrig, L., Bolink, H. J. & Tvingstedt, K. Effects of Masking on Open-Circuit Voltage and Fill Factor in Solar Cells. Joule

Doi:https://doi.org/10.1016/j.joule.2018.10.016.

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2542435118305075

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