有机固体的性质取决于其结构和形态。由于该类材料的复杂内部结构及其对电子束的敏感性，常规电子显微镜对其无法进行直接成像。加州大学伯克利分校Andrew M. Minor 课题组尝试采用透射电子显微镜观察两个有机分子薄膜系统的纳米晶体结构。采用扫描纳米衍射方法，在空间定位探针（~2 nm）完全进入倒易空间。通过该技术揭示的形态不同于具有明显的结构分割的晶粒,而是以尖锐的晶粒边界和重叠的区域为特征。具有晶体取向的液晶结构在所有可能的旋转上平滑地变化。研究结果显示了结构-性质关系如何在有机系统中可视化，使用以前仅适用于金属和陶瓷等硬质材料的技术。

Panova, O. et al. Diffraction imaging of nanocrystalline structures in organic semiconductor molecular thin films. Nat. Mater., 2019

Doi:10.1038/s41563-019-0387-3.

https://www.nature.com/articles/s41563-019-0387-3